Degradação da camada ativa de dispositivos semicondutores orgânicos a base de MEH-PPV e a utilização de um produto natural como agente retardante
CNSL; poly[2-methoxy,5-(2-ethylhexoxy)-1,4-phenylene vinylene]; MEH-PPV; dark spots
Dispositivos semicondutores com camada ativa orgânica são substitutos promissores dos dispositivos a base silício. No entanto, a aplicação destes materiais orgânicos em escala comercial encontra alguns obstáculos, tais como a baixa eficiência e degradação em curto período de operação. OLDEs (Organic light Emiting Diodes) a base de PPV poli(p-fenileno vinileno) ou derivados apresentam dois meios de degradação: o primeiro processo é a oxidação do polímero que leva a formação de grupos carbonilas substituindo os grupo vinil. A carbonila provoca a aniquilação da fluorescência e diminui o comprimento de conjugação do polímero. O segundo passo, envolve a formação de curtos circuitos elétricos locais que não necessariamente causa a completa falha do dispositivo de imediato. Em anos recentes, o líquido da casca da castanha do caju (Cashew Nut Shell Liquid-CNSL) foi analisado e mostrou que contem uma concentração considerável de compostos fenólicos alquil substituídos; importantes moléculas que mostram atividade antioxidante. Neste trabalho mostramos o potencial uso do CNSL técnico como antioxidante para o desenvolvimento de OLEDs a base de [2-metóxi,5-(2-etil-hexiloxi)-p-fenileno vinileno] (MEH-PPV) em condições ambientes. Produzimos filmes casting para estudar a fotodegradação usando FTIR, neste caso filmes puro e com 10% de LCC. Os espectros de FTIR mostraram claramente que o aparecimento de grupos carbonila é retardado nas amostras com 10% de LCC. Comparando as curvas de Densidade de corrente vs. Tensão (J vs. V) dos dispositivos com e sem CNSL observamos que a performance do dispositivo com e sem o antioxidante é bem similar. Os dispositivos submetidos a ciclos de tensão e à luz ultravioleta o processo de degradação é acelerado em relação aos dispositivos submetidos a apenas ciclos de tensão. Imagens de microscopia óptica foram tomadas para analisar a superfície dos filmes após uma sequencia de ciclos de tensão, mostrando claramente o aparecimento de pontos escuros que crescem com o número de ciclos. Uma vez montados os dispositivos, os contatos elétricos impedem a obtenção de espetros FTIR, por conta disso, foram realisadas medidas de espectroscopia Raman Confocal. Estes resultados mostram que as bandas referentes ao anel fenilico e a ligação C=C do grupo vinil, sofrem um deslocamento de 16 cm-1 indicando uma mudança drástica na dinâmica destes grupos. Esta modificação na dinâmica é consistente com a possível quebra de conjugação e formação de uma ligação C=O observada por FTIR. Os gráficos de potencial de corte relativo mostram que o dispositivo com 10% de LCC em sua camada ativa, quando exposto a luz e ciclos de tensão, apresentam taxa de degradação semelhante aos dispositivos sem LCC. Este resultado implica que o processo de degradação dominante nos dispositivos submetidos a ciclos de tensão e à luz UV não é o aparecimento de grupos carbonilas, mas sim a degradação dos contatos como mostram as imagens de microscopia óptica.